集成电路引线弯曲试验仪的主要用途

主要用途：

集成电路引线弯曲试验仪/引线涂层附着力试验仪满足GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 、GJB 548A-1996 微电子器件试验方法和程序、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序、GJB 360A-1996 电子及电气元件试验方法标准要求设计制造；主要用于测定集成电路产品、IC芯片、电子元器件及设备物理性能试验中引线涂覆层附着力检测以及引脚在拉力、弯曲、扭转三种作用力下的形变状态。

性能指标：

1.拉力试验：手动垂直加载砝码；

2.拉力加载时间：0～999s内连续可调；

3.弯曲试验：每次对一根引线弯曲；

4.弯曲角度：0～90°可调，精度：±2°；

5.动作周期：1s～10s/次（弯曲角度：30°、45°、90°时），精度：±3%；

6.弯曲次数：1～999次；精度：±1次；

7.扭转：可连续扭转180°；精度：±2°；

8.加载砝码：0.5N、1N 、1.25N 、2.5N、5.0N、10N、20N、40N八个；精度：± 1％；（可据用户要求定制，操作方法以常用砝码说明）；

9.动力源：步进电机;

10.控制器：PLC智能程序控制;

11.显示和操作:7寸彩色触摸屏（台湾台达原装）;

12.工位：1位；

13.外形尺寸：约580L*350W*680H(mm);

14.工作电源：220V±10%，50/60Hz±2Hz.。

符合标准：

满足GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 、GJB 548A-1996 微电子器件试验方法和程序、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序、GJB 360A-1996 电子及电气元件试验方法标准要求设计制造。